в начало  предыдущее  закрыть  следущее  в конец
Главная страница / О Центре / Сотрудники / Дирекция ЦКП / Научно-технологический центр "Нано- и микросистемной техники" (НТЦ НМСТ) / НИЛ "Аналитические методы исследования поверхностей" (АМИП)

Козьмин А.М.

Ведущий инженер (НИЛ "Аналитические методы исследования поверхностей" (АМИП)), СНС (НИЛ "Аналитические методы исследования поверхностей" (АМИП))





Статьи

  1. The Characteristics of Observation of the Non-uniform Magnetization on the Surface of the Thin Magnetic Films in Ta/CoFeB/MgO/CoFeB/Ta Multilayers, 2017 г.

    Journal of Siberian Federal University. Mathematics & Physics – 2017 – 10 (1) – P. 40–44.