Главная страница / О Центре / Сотрудники / Дирекция ЦКП / Научно-технологический центр "Нано- и микросистемной техники" (НТЦ НМСТ) / НИЛ "Аналитические методы исследования поверхностей" (АМИП)
Козьмин А.М.
Ведущий инженер (НИЛ "Аналитические методы исследования поверхностей" (АМИП)), СНС (НИЛ "Аналитические методы исследования поверхностей" (АМИП))
Статьи
- The Characteristics of Observation of the Non-uniform Magnetization on the Surface of the Thin Magnetic Films in Ta/CoFeB/MgO/CoFeB/Ta Multilayers, 2017 г.
Journal of Siberian Federal University. Mathematics & Physics – 2017 – 10 (1) – P. 40–44.