Сотрудники ЦКП МИЭТ

Абрамов В.Н.
Заместитель директора по экономике и финансам (Дирекция ЦКП)

Агапкина Д.А.
Ведущий инженер-конструктор (НИЛ "Разработка изделий" (РИ))

Алексеев А.М.
Ведущий инженер (НИЛ "Аналитические методы исследования поверхностей" (АМИП)),
СНС (НИЛ "Аналитические методы исследования поверхностей" (АМИП))

Амонцев П.С.
Техник (НИЛ "Разработка технологий" (РТ))

Базанов Д.В.
Начальник лаборатории (НИЛ "Проектирование и изготовление фотошаблонов" (ФШ))

Балашев И.А.
Оператор ЭТТ (НИЛ "Сборка и испытания электронных компонентов" (ЭК))

Белин А.Н.
Ведущий инженер (НИЛ "Исследование изделий" (ИИ))

Беспалов В.А.
Главный научный сотрудник (Дирекция ЦКП)

Выгодин О.А.
Администратор компьютерных сетей (Дирекция ЦКП)

Гелашвили Е.А.
Инженер (НИЛ "Разработка технологий" (РТ))

Глаголев П.Ю.
Инженер (НИЛ "Исследование изделий" (ИИ))

Грязнева Т.А.
Инженер (НИЛ "Исследование изделий" (ИИ))

Гусев Е.Э.
Инженер (НИЛ "Разработка изделий" (РИ))

Дедкова А.А.
Ведущий инженер (Дирекция ЦКП)

Демин Г.Д.
Начальник лаборатории (НИЛ "Исследование изделий" (ИИ)),
Инженер (НИЛ "Исследование изделий" (ИИ))

Доброхотов А.М.
Техник (НИЛ "Разработка технологий" (РТ))

Доброхотова Н.В.
Оперетор ЭВМ (НИЛ "Исследование изделий" (ИИ))

Дронова Д.А.
Инженер (НИЛ "Аналитические методы исследования поверхностей" (АМИП))

Дюжев Н. А.
Директор (Дирекция ЦКП),
Директор центра (Научно-технологический центр "Нано- и микросистемной техники" (НТЦ НМСТ))
Ученая степень: кандидат физико-математических наук

Егоров В.А.
Заместитель директора центра (Центр проектирования изделий "Нано- и микросистемной техники" (ЦПИ НМСТ))

Золотарёв В.И.
Начальник лаборатории (НИЛ "Разработка технологий" (РТ))

Киреев В.Ю.
Ведущий инженер (НИЛ "Исследование изделий" (ИИ))

Кириленко Е.П.
Ведущий инженер (НИЛ "Исследование изделий" (ИИ))

Козлитин А.И.
Инженер (НИЛ "Аналитические методы исследования поверхностей" (АМИП))

Козьмин А.М.
Ведущий инженер (НИЛ "Аналитические методы исследования поверхностей" (АМИП)),
СНС (НИЛ "Аналитические методы исследования поверхностей" (АМИП))

Кучин В.М.
Инженер-конструктор (НИЛ "Разработка изделий" (РИ))

Лапшина Е.Е.
Экономист (Дирекция ЦКП)

Леонов С.В.
Техник (НИЛ "Разработка технологий" (РТ))

Мазуркин Н.С.
Ведущий инженер (НИЛ "Разработка изделий" (РИ))

Махиборода М.А.
Заместитель директора центра (Научно-технологический центр "Нано- и микросистемной техники" (НТЦ НМСТ))

Медведев Б.К.
Ведущий инженер (Научно-технологический центр "Нано- и микросистемной техники" (НТЦ НМСТ)),
Начальник лаборатории (НИЛ "Аналитические методы исследования поверхностей" (АМИП))

Мигунов Д.М.
Ведущий инженер (НИЛ "Аналитические методы исследования поверхностей" (АМИП)),
СНС (НИЛ "Аналитические методы исследования поверхностей" (АМИП))

Митько С.В.
Инженер (НИЛ "Аналитические методы исследования поверхностей" (АМИП))

Назаров Д.А.
Инженер (НИЛ "Разработка технологий" (РТ))

Новиков Д.В.
МНС (НИЛ "Разработка технологий" (РТ))

Новиков Е.В.
Лаборант (НИЛ "Разработка изделий" (РИ))

Оводов А.И.
Техник (НИЛ "Исследование изделий" (ИИ))

Ожерельева М.В.
Техник (НИЛ "Аналитические методы исследования поверхностей" (АМИП))

Орешкин Г.И.
Ведущий инженер (НИЛ "Аналитические методы исследования поверхностей" (АМИП))

Панов М.Ю.
Ведущий инженер (НИЛ "Схемотехника изделий" (СИ))

Поздновская О.В.
Техник 1 кат. (НИЛ "Проектирование и изготовление фотошаблонов" (ФШ))

Преснухина А.А.
Инженер (НИЛ "Аналитические методы исследования поверхностей" (АМИП))

Пустовойт И.Г.
Секретарь директора (Дирекция ЦКП)

Пушкина М.М.
Техник (НИЛ "Разработка технологий" (РТ))

Рогожников Н.А.
Техник (НИЛ "Аналитические методы исследования поверхностей" (АМИП))

Рябов В.Т.
Ведущий инженер (НИЛ "Разработка изделий" (РИ))

Сафонов А.А.
Ведущий инженер-програмист (НИЛ "Схемотехника изделий" (СИ))

Сидоренко В.Н.
Начальник лаборатории (НИЛ "Сборка и испытания электронных компонентов" (ЭК))

Сидоренко Н.И.
Директор (Центр технологии и испытания электронных компонентов (ЦТИЭК))

Соболев М.Ю.
Администратор компьютерных сетей (Дирекция ЦКП)

Солодахина В.А.
Ведущий инженер-технолог (НИЛ "Проектирование и изготовление фотошаблонов" (ФШ))

Сретенский В.В.
Инженер-электроник (НИЛ "Разработка изделий" (РИ))

Трифонов А.Ю.
Инженер (НИЛ "Аналитические методы исследования поверхностей" (АМИП))

Чиненков М.Ю.
Начальник лаборатории (НИЛ "Разработка изделий" (РИ)),
ВНС (НИЛ "Разработка изделий" (РИ))

Юров А.С.
Директор центра (Центр проектирования изделий "Нано- и микросистемной техники" (ЦПИ НМСТ)),
Начальник лаборатории (НИЛ "Схемотехника изделий" (СИ))